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透射电镜/透射电子显微镜

赛默飞化学分析仪器
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透射电镜/透射电子显微镜

透射电镜/透射电子显微镜

透射电镜/透射电子显微镜(简称TEM),是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。
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LVEM5台式透射电子显微镜

LVEM5台式透射电子显微镜

日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

  • 品牌: 日立
  • 型号: HD-2700
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和最终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。

JEM-F200 场发射透射电子显微镜

JEM-F200 场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-F200
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z300FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100Plus
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介:JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,EDS,CCD和EELS实现了一体化控制。JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进,非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件,可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独步天下。TheJEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。技术参数(UHR):1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.14nm3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV4.倾斜角:25主要特点:1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO2.稳定便捷的操作系统3.最小束斑尺寸:0.5nm4.良好的扩展性

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

辽宁11选5开奖JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F NEOARM
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    EM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜,标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z200FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

JEM-3200FS 场发射电子显微镜

JEM-3200FS 场发射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-3200FS
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统,能容易地获得能量过滤像和能量损失谱,同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上zui大程度地减少了图像畸变,出厂前还将剩余一点的畸变做了zui后的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统(选配件),可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100Plus
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    日本电子JEM-2100Plus 透射电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zui新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜

JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ACE200F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。

冷场发射透射电镜

冷场发射透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-F200
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为:1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;2) 四级聚光镜设计:为了最大 程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制;3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS;4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动;5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析;7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度;8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。

JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2800
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5. 能谱:可以安装两个超级能谱 6. 洛伦兹模式:标配

冷场发射球差校正透射电镜

冷场发射球差校正透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F(C)
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。

原子分辨分析型透射电镜

原子分辨分析型透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    技术参数:1。分辨率:STEM0。08 nm TEM0。19 nm (0。11 nm with TEM Cs corrector) 2。放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x 3。加速电压: 200 kV 4。球差校正器STEM Cs corrector Standard TEM Cs corrector Optional 5。其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc。主要特点:原子分辨率S/TEM 标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0。08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。 极强的抗干扰能力和超高稳定性 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。 可以选配成像系统的球差校正器 点分辨率可以提高到0。11 nm。 操作极为简单 克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。

200kV场发射透射电子显微镜

200kV场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介:JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。技术参数:1。点分辨率:0。19nm2。线分辨率:0。14nm3。加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV4。倾斜角:255。STEM分辨率:0。20nm主要特点:1。高亮度场发射电子枪。2。束斑尺寸小于0。5nm。3。新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。4。稳定性好、操作简便。5。微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

Tecnai™ 透射电子显微镜

Tecnai™ 透射电子显微镜

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Tecnai™
  • 产地:荷兰
  • 供应商:北京圣嘉宸科贸有限公司

    FEI推出的Tecnai 系列透射电子显微镜 (TEMs) 在为生命科学、材料科学和电子行业提供了真正完整的成像和分析解决方案。 Tecnai G2 系列拥有数种型号,结合了现代技术和创新科学和工程团体的紧迫需求。其中Titan G2 60-300 是适用于二维和三维材料表征和化学分析的功能最强大的高分辨率扫描透射式电子显微镜 (S/TEM),具备最宽的 60-300kV 加速电压范围,分辨率可提升至原子级,并且允许单台仪器完美结合 Cs校正、单色仪和 新颖的超稳定高亮度电子枪 (X-FEG),具有卓绝的 STEM 和 TEM 成像性能。技术参数:样品电子源 (kV)放大倍数样品台相机 长度 (mm)EDS 立体 角 (srad)Tecnai Osiris 20 - 200 kV 22 x - 930 kx (TEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 30 - 4,500 0.9Tecnai 30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 100 x - 5Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai F30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 150 x - 230 Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai Spirit 20 - 120 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移动 2 mm样品尺寸 3 mm n/a n/aTecnai Polara 50 - 300 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移动 2 mm样品尺寸 3 mm n/a n/a

Titan™ 透射电子显微镜

Titan™ 透射电子显微镜

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Titan
  • 产地:荷兰
  • 供应商:北京圣嘉宸科贸有限公司

    自 2005 年FEI推出以来,Titan以其卓越的产品设计和已获证明的具有突破性的性能和结果成为全球各地杰出研究人员的首选扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)。FEI Titan S/TEM 系列包括全球功能最强大的商用 S/TEM: Titan G2 60-300、Titan3 G2 60-300、Titan Krios 和 Titan ETEM (环境 TEM)。 所有 Titans 均使用革命性的 60-300 kV 电子镜筒,通过 TEM 和 STEM 模式在各种材料和工作条件下进行亚原子级的探索和研究。技术参数:产品能散点分辨率信息分辨极限STEM 分辨率Titan G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 80 pm 80 pmTitan ETEM 0.7 - 0.8 eV 0.1 nm (标准)0.12 nm (ETEM) 0.1 nm (标准)0.12 nm (ETEM) 0.136 nm (标准)0.16 (ETEM)Titan3 G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 70 pm 70 pmTitan Krios 0.7 - 0.8 eV n/a 0.14 nm 0.204 nm

日立透射电镜HT7700 Exalens

日立透射电镜HT7700 Exalens

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7700 Exalens
  • 产地:日本
  • 供应商:北京圣嘉宸科贸有限公司

    辽宁11选5开奖 日立最新推出120kV透射电镜HT7700 Exalens,该透射电镜继承了标准版HT7700免荧光屏设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然保留双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),成为目前市场上唯一一款120kV透射电镜中分辨率最高的机型。产品特点:被广泛应用于纳米材料和软材料研究领域,可以满足客户对分辨率的要求1、高分辨物镜可保证0.144nm的分辨率,可满足用户对高分辨图像的要求。2、在较低的加速电压下,仍保持较高的分辨率,在最大程度降低样品损伤的同时,获得高质量的高分辨图片。

日立透射电子显微镜HT7700

日立透射电子显微镜HT7700

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7700
  • 产地:日本
  • 供应商:北京圣嘉宸科贸有限公司

    HT7700型透射电子显微镜是一款全新设计的高级显微镜,专门用于生物和纳米材料的观察,具有极高的对比度和高分辨率的成像功能,是一款功能多合一的系统。将TEM操作统一于显示器上,无需直视荧光板,实现了无胶片化,可以在明亮的室内进行观察,以往在荧光板上发暗而难于识别的图像在显示器上也能够实现清晰地显示。标配电镜图像管理软件(EMIP-SP),自动将拍摄的图像注册到图像数据库,便于图像的管理与分类,进行长度测量和图像处理等功能。该设备采用分子泵真空系统,排气系统清洁干净。与之前型号相比,该设备耗电省,且能减少30%的二氧化碳排放量。主要参数:项目特点图像分辨率0。204 nm(晶格像)加速电压40 - 120 kV(100V增量)图像信号×200 ×200,000(高反差模式)×4,000 ×600,000(高分辨率模式)×50 ×1,000(低倍模式)样品倾斜度±30°, ±70° (*)主照相机像素尺寸(底部安装)1,024×1,024 像素 或 2,048×2,048 像素真空系统分子泵 ×1,机械泵 ×1电源单相交流100伏±10%,4千伏安

日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜

辽宁11选5开奖日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F
  • 产地:日本
  • 供应商:富瑞博国际有限公司

    日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜 富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品 仪器简介: JEM-ARM200F的电子光学系统标准配备了一体化的球差校正器, 其扫描透射像分辨率(STEM-HAADF)达到了0.08nm,为商用透射电子显微镜分辨率的世界之最。 保证0.08nm的世界最高STEM (HAADF) 分辨率 ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。因为束流更亮更细、电流密度高, ARM200F能够在进行原子水平分析的同时, 还能缩短检测时间和提高样品处理能力。 电气稳定性的提高 要达到原子水平的分辨率, 控制电子光学系统的电源需要稳定。ARM200F把高压和物镜电流变动降低到传统透射电子显微镜50%, 大幅度地提高了电气的稳定性。 机械稳定性的提高 照射系统和成像系统采用像差校正器,实现原子水平的分析和成像,需要控制原子水平的振动和变形。 ARM200F整体机械强度比传统透射电子显微镜增大两倍,通过增大镜筒尺寸,提高了刚度,优化了操作台结构,增强了机械的稳定性。 高扩展性的STEM 分析能力 暗场检测器因STEM检测角度的不同有两种类型(其中一种为标配), 它和明场检测器(标准配备), 背散射电子检测器 (选配件) 可以同时安装。新的扫描成像获取系统能够同时收集4种不同类型的信号, 可以同时观察这4种图像。 环境对策 装置设置室的温度变化和杂散磁场也能引起原子水平的振动和变形。为降低外部影响,ARM200F特别标配了热屏蔽和磁屏蔽系统。另外,对镜筒加外覆盖以免受周围空气对流所引起的镜筒表面温度变化的影响。 用于成像系统的球差校正器 (选配件) 使用选配的成像系统球差校正器, 透射电子显微镜的图像(TEM)分辨率能提高到0.11 nm。 JEM-ARM200F 规格 分辨率 扫描透射像1) 0.08 nm2)(加速电压为200kV时) 透射像 点分辨率 线分辨率 0.19 nm (加速电压为200kV时) 0.11 nm (使用成像系统球差校正器3), 加速电压为200kV时) 0.10 nm 放大倍率 扫描透射像 200 至 150,000,000x 透射像 50 至 2,000,000x 电子枪 肖特基场发射枪 加速电压 80 至 200 kV4) 样品台 样品台 全对中侧插式测角台 样品尺寸 直径3mm 样品倾斜角 最大25°(使用双倾台) 移动范围 X/Y:±1.0mm(马达驱动) 球差校正器 照明系统的球差校正器(STEM) 标准配置 成像系统的球差校正器(TEM) 选配件 选配件 能谱仪(EDS) 电子能量损失谱仪 (EELS) CCD 相机等 1. 使用HAADF (高角度环形暗场)检测器 2. 测试标样Ge(112)情况下保证. 3. 选配件 4. 标准电压: 120 kV, 200 kV 富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品 相关产品垂询,敬请与我们联系。富瑞博将为您的实验室提供最优质的服务和解决方案。 富瑞博国际有限公司 更多产品请登陆富瑞博官网:www.freeboard.com.cn 电话:020-86290702 传真:020-86290703 邮箱:marketing@freeboard.com.cn

CAMECA 三维原子探针

CAMECA 三维原子探针

  • 品牌: 法国Cameca
  • 型号: LEAP 5000
  • 产地:美国
  • 供应商:法国cameca公司

    三维原子探针显微术(3DAP),也称为原子探针断层分析术(APT),是一种具有原子级空间分辨率的测量和分析方法。基于“场蒸发”原理,三维原子探针通过在样品上施加一个强电压脉冲或者激光脉冲,将其表面原子逐一变成离子而移走并收集。3DAP的特性就是从最小的尺度来逐点揭示材料内部结构,不论简单亦或复杂。可以轻松获得纳米尺度结构的细节化学成分和三维形貌,因而专门应对材料研发中令人棘手的小尺度结构的测量与分析问题。例如,沉淀相或团簇结构的尺寸、成份及分布;又比如元素在各种内界面(晶界、相界、多层膜结构中的层间界面等)的偏聚行为等等。 以前,由于对样品有导电性的要求以及制作针尖形状样品有一定难度等一些问题,原子探针的应用曾经在很长一段时间内局限于金属材料,仅仅做纯科学的探索。进入2000年以来,仪器本身在一些关键技术上的突破性进展,加上汇聚离子束制样技术的成熟,大大拓展了原子探针的应用范围,可研究的对象涵盖金属、半导体、存储介质,到先进材料(纳米线、量子阱)等广泛的材料类型;应用上从纯学术研究到汽车、航空发动机、核设施、半导体芯片、LED、光伏材料等等应用科学甚至直接的生产过程监控。从无机材料到有机材料《Nature》曾报道了利用这一技术对动物头盖骨的研究。时至今日,3DAP技术因其独到的分析视角正在为越来越多的材料研发人员所认识,已经逐渐加入TEM、SIMS等工具的行列,成为材料分析的主流分析技术之一。 局部电极 和 微尖阵列 局部电极(Local ElectrodeTM)是原子探针的关键部件。LEAP局部电极原子探针(Local ElectrodeTM Atom Probe)即取名于此。局部电极的应用改善了原子探针的易用性和数据质量,也因为局部电极,原子探针可以利用微尖阵列(MicrotipTM arrays)一次装载多个样品,大大提高原子探针的实验效率。 反射镜 高质量分辨率 和 大视场 新一代 LEAP 5000R 配备了新型能量补偿反射镜(Reflectron),在优化质量分辨率的同时获得了大视场(可达250nm)。对于工作在电压脉冲模式下的那些应用(例如,传统的金属材料),将获得出色的质量分辨率。 小束斑UV激光 在激光模式下工作时,LEAP 5000XR使用了聚焦到很小束斑的UV波长激光。小束斑保证了优异的质量分辨,UV波长保证了对包括许多绝缘体在内的众多材料都可以给出更好的结果。更多内容请阅读绑定资料,并请浏览我公司网页:http://www.cameca.com/instruments-for-research/atom-probe.aspx

日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000

辽宁11选5开奖日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000

  • 品牌: 日立
  • 型号: NX9000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800

辽宁11选5开奖日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7800
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,独特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。

日立新型高分辨率透射电镜 HT7830

日立新型高分辨率透射电镜 HT7830

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7830
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,独特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。

日立球差校正透射电子显微镜 HF5000

日立球差校正透射电子显微镜 HF5000

  • 品牌: 日立
  • 型号: HF5000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HF5000作为一款球差校正冷场发射透射电镜,其分辨率达到了亚埃级,可以实现对样品的超细微观结构的观察和分析,适用于金属、陶瓷、半导体、纳米材料等的观察。同时,HF5000独特的TEM、STEM、SEM三位一体功能不仅可以实现对材料内部结构的研究,也可以获得材料表面的信息。原子级分辨率的二次电子探测器可以弥补TEM和STEM无法观察样品表面的缺陷,同时相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以满足样品表面高分辨形貌和结构观察的需求,与TEM和STEM形成互补。全自动化的球差校正过程又大大简化了球差校正透射电镜的使用难度,提高了观察效率,尤其适合测试平台和科研中心等用户。

日立场发射透射电子显微镜 HF-3300

日立场发射透射电子显微镜 HF-3300

  • 品牌: 日立
  • 型号: HF-3300
  • 产地:日本
  • 供应商:辽宁11选5开奖天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立原位环境透射电子显微镜 H-9500

日立原位环境透射电子显微镜 H-9500

  • 品牌: 日立
  • 型号: H-9500
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立新型双束系统 NX2000

日立新型双束系统 NX2000

  • 品牌: 日立
  • 型号: NX2000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    1.高分辨成像,高衬度成像分辨率:二次电子(3.5nm@1kV),二次离子(4nm@30kV); 2.可实时观察加工过程; 3.全自动TEM样品制备。

日立新型FIB系统 MI4050

日立新型FIB系统 MI4050

  • 品牌: 日立
  • 型号: MI4050
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    产品简介日立新型FIB系统 MI4050MI4050是高效率的聚焦离子束设备,它使用了全新的电子光学系统,具有世界领先的SIM图像分辨率,并且TEM样品制备效果优异。MI4050广泛用于截面观察、微电路修复、纳米图像制备和纳米沉积等。主要特点:1.高效率、高质量加工,二次离子分辨率:4nm@30kV2.高分辨、高衬度SIM成像3.全自动TEM样品制备4.大尺寸样品加工 应用领域:1.纳米材料微加工2.半导体及电子元器件材料3.生命科学

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z300FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F NEOARM
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z200FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-1400Flash
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域,而且用途越来越广。其中,以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察,首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况,再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来,对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求,新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: EM-05500TGP
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化,TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件(Recorder、Composer和Visualizer-Kai)。

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